原子力顯微鏡簡(jiǎn)單分類(lèi)
點(diǎn)擊次數(shù)：2176 更新時(shí)間：2021-06-09
原子力顯微鏡價(jià)格
◆ 激光檢測(cè)頭和樣品掃描臺(tái)集成一體，穩(wěn)定可靠；
◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調(diào)節(jié)光斑簡(jiǎn)單方便；
◆ 單軸驅(qū)動(dòng)樣品自動(dòng)垂直接近探針，準(zhǔn)確定位掃描區(qū)域，使針尖垂直于樣品掃描；
◆ 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針?lè)绞剑Ｗo(hù)探針及樣品；
◆ 4X物鏡光學(xué)定位，無(wú)需調(diào)焦，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針樣品掃描區(qū)域
◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡(jiǎn)單實(shí)用，防震效果好；
◆ 金屬屏蔽隔音箱，
原子力顯微鏡有三種基本成像模式，它們分別是接觸式(Contact mode)、非接觸式(non-contact mode)、輕敲式(tapping mode)
1、接觸式
接觸式AFM是一個(gè)排斥性的模式，探針尖和樣品做柔軟性的“實(shí)際接觸”，當(dāng)針尖輕輕掃過(guò)樣品表面時(shí)，接觸的力量引起懸臂彎曲，進(jìn)而得到樣品的表面圖形。由于是接觸式掃描，在接觸樣品時(shí)可能會(huì)是樣品表面彎曲。經(jīng)過(guò)多次掃描后，針尖或者樣品有鈍化現(xiàn)象。
2、非接觸式
在非接觸模式中，針尖在樣品表面的上方振動(dòng)，始終不與樣品接觸，探測(cè)器檢測(cè)的是范德華作用力和靜電力等對(duì)成像樣品沒(méi)有破壞的長(zhǎng)程作用力。
需要使用較堅(jiān)硬的懸臂（防止與樣品接觸）。所得到的信號(hào)更小，需要更靈敏的裝置，這種模式雖然增加了顯微鏡的靈敏度，但當(dāng)針尖和樣品之間的距離較長(zhǎng)時(shí)，分辨率要比接觸模式和輕敲模式都低
3、輕敲式
微懸臂在其共振頻率附近做受迫振動(dòng)，振蕩的針尖輕輕的敲擊表面，間斷地和樣品接觸。當(dāng)針尖與樣品不接觸時(shí)，微懸臂以最大振幅自由振蕩。當(dāng)針尖與樣品表面接觸時(shí)，盡管壓電陶瓷片以同樣的能量激發(fā)微懸臂振蕩，但是空間阻礙作用使得微懸臂的振幅減小。反饋系統(tǒng)控制微懸臂的振幅恒定，針尖就跟隨表面的起伏上下移動(dòng)獲得形貌信息。
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